Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
Hochvakuumkammer zum Aufdampfen von Dünnschichten — vakuuminė garinimo kamera statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. vacuum evaporation chamber vok. Hochvakuumkammer zum Aufdampfen von Dünnschichten, f; Vakuumbeschichtungskammer, f rus. вакуумная напылительная камера, f pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
Elektronenbeugung — ist die Beeinflussung der Ausbreitung von Elektronen durch elastische Streuung an einem Ensemble von Streuobjekten (Atomen). Über den Welle Teilchen Dualismus sind den Elektronen die De Broglie Wellenlängen zugeordnet, so dass mit Elektronen… … Deutsch Wikipedia
MEED — Elektronenbeugung ist die Beeinflussung der Ausbreitung von Elektronen durch elastische Streuung an einem Ensemble von Streuobjekten (Atomen). Über den Welle Teilchen Dualismus sind den Elektronen die de Broglie Wellenlängen zugeordnet, so dass… … Deutsch Wikipedia
SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Video-LEED — Elektronenbeugung ist die Beeinflussung der Ausbreitung von Elektronen durch elastische Streuung an einem Ensemble von Streuobjekten (Atomen). Über den Welle Teilchen Dualismus sind den Elektronen die de Broglie Wellenlängen zugeordnet, so dass… … Deutsch Wikipedia
